Descripción del título
Rebiun25972929 https://catalogo.rebiun.org/rebiun/record/Rebiun25972929 000317s1999 sp z umul 8476537263 USA.SABUS cateng Altet Sanahujes, Josep Acoblaments atèrmics en circuits mixtes Microforma] aplicacions al test de cirucuits integrats Josep Altet Sanahujes [Barcelona] Universitat Politècnica de Catalunya D.L. 1999 [Barcelona] [Barcelona] Universitat Politècnica de Catalunya 1 microfichas 307 fotogramas il. 7 p, 11 x 15 cm + 1 folleto con res. de la tesis 1 microfichas 307 fotogramas Tesi doctoral / Universitat Politècnica de Catalunya 151/99 En la port.: Departament d'Enginyeria Electrònica Reducción alta Tesis-Universidad Politécnica de Cataluña, 1998 Texto del resúmen en catalán e inglés Universidad Politécnica de Cataluña (Barcelona, España)- Tesis y disertaciones académicas. Circuitos integrados