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Study of surface phenomena acting during ion beam oxidation of semiconductor and chemical etching of ultra-thin oxides
Publicacions Universitat de Barcelona 1992

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Título:
Study of surface phenomena acting during ion beam oxidation of semiconductor and chemical etching of ultra-thin oxides [ Microforma] / Josep Lluís Alay i Rodríguez
Editorial:
Barcelona : Publicacions Universitat de Barcelona, 1992
Descripción física:
1 microfitxa ; 11x15 cm + 1 fullet (9 p. ; 16 cm)
Mención de serie:
Col·lecció de tesis doctorals microfitxades ; 2309
Nota general:
A la contraportada: Divisió: Ciències Experimentals i Matemàtiques. Departament: Física Aplicada i Electrònica
Tesis:
Tesi doctoral, Universitat de Barcelona, 1993
Bibliografía:
Bibliografia
Copyright/Depósito Legal:
B 9351-1995, Biblioteca de Catalunya
ISBN:
844750719X
Materia:
Entidades:
Universidad de Barcelona. Departament de Física Aplicada i Electrònica
Punto acceso adicional serie-Título:
Col·lecció de tesis doctorals microfitxades ; 2309

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