REBIUN - ODA

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Microelectronic failure ana...

Microelectronic failure analysis [desk reference.

ASM International c2002

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Monografía

monografia Rebiun17114310 https://catalogo.rebiun.org/rebiun/record/Rebiun17114310 021220s2002 ohua sbf 001 0 eng d 0871707691 9780871707697 UPCT u247386 CaPaEBR. CaPaEBR. UMA.RE Microelectronic failure analysis Recurso electrónico] desk reference. 2002 supplement prepared under the direction of the Electronic Device Failure Analysis Society publications committee Materials Park, OH ASM International c2002 Materials Park, OH Materials Park, OH ASM International vi, 210 p. ill vi, 210 p. E-Libro Incluye referencias bibliográficas e índice Modo de acceso: Worl Wide Web E-Libro Electronic apparatus and appliances- Testing- Handbooks, manuals, etc Electronics- Materials- Testing- Handbooks, manuals, etc Microelectronics- Materials- Defects- Handbooks, manuals, etc Microelectronics- Materials- Testing- Handbooks, manuals, etc Semiconductors- Defects- Handbooks, manuals, etc E-Libro (Servicio en línea)

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