REBIUN - ODA

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Microelectronic failure ana...

Microelectronic failure analysis [desk reference : 2001 supplement

ASM International c2001

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Monografía

monografia Rebiun17114314 https://catalogo.rebiun.org/rebiun/record/Rebiun17114314 020606s2001 ohua sb f 001 0 eng d 9780871707451 0871707454 pbk.) UPCT u251358 CaPaEBR. CaPaEBR. UMA.RE Microelectronic failure analysis Recurso electrónico] desk reference : 2001 supplement prepared under the direction of the Electronic Device Failure Analysis Society Publications Committee Materials Park, OH ASM International c2001 Materials Park, OH Materials Park, OH ASM International v, 171 p. ill v, 171 p. E-Libro Incluye referencias bibliográficas e índice Modo de acceso: Worl Wide Web E-Libro Electronics- Materials- Testing- Handbooks, manuals, etc Microelectronics- Materials- Testing- Handbooks, manuals, etc Microelectronics- Materials- Defects- Handbooks, manuals, etc Electronic apparatus and appliances- Testing- Handbooks, manuals, etc Semiconductors- Defects- Handbooks, manuals, etc E-Libro (Servicio en línea)

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